四探針程控電動測試架/遠(yuǎn)程電動檢測設(shè)備/程控電動測試架  型號：WS-KDDJ-2 

WS-KDDJ-2型 電動架是使用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動，采用單板機(jī)可編程控制，操作方便，可隨意調(diào)節(jié)探頭的下降zui低點，上升zui高點固定，探頭在zui高zui低點的停留時間范圍廣（從 0-19秒）。硅片硅錠均可測量，普通硅錠測量高度為180mm（可按用戶要求加高），測試臺zui大直徑200mm，不能旋轉(zhuǎn)和移動。  
2、使用方法 
電機(jī)在電源開關(guān)接通和按停止按鈕后自動上升至zui高點，進(jìn)入備用狀態(tài)。 
（1）自動： 按自動按鈕電機(jī)就按設(shè)定自動上升和下降。上升的zui高點是固定不變的，下降的zui低點可以隨意調(diào)節(jié)，在zui高和zui低點的停留時間是可調(diào)的。當(dāng)電機(jī)進(jìn)入自動狀態(tài)時按其他功能按鈕均無效，如需停止運(yùn)行進(jìn)行其它操作，按下停止按鈕1秒即可。 
（2）手動： 按一下手動按鈕電機(jī)就下降至當(dāng)前設(shè)定的zui低點，再按一下就上升至zui高點。 
注：如需重新設(shè)定zui低點時，設(shè)定結(jié)束后先按停止按鈕再進(jìn)行手動做。如在剛設(shè)定好zui低點后直接按手動按鈕探頭會下降到導(dǎo)軌的zui低點，（行程開關(guān)接通為止）可能會對被測試物品造成損壞。 
（3） 定位： 當(dāng)需要重新修改探頭下降的zui低點時，設(shè)備必須在備用狀態(tài)下才可進(jìn)行修改，修改前要先把以前的數(shù)據(jù)清除掉，按定位清0即可。之后按定位按鈕，每按一 下探頭就往下移動0.5mm，數(shù)據(jù)自動加1，zui大數(shù)據(jù)約為70-80，到達(dá)導(dǎo)軌的zui低點時行程開關(guān)接通數(shù)據(jù)自動回0，再按定位按鈕無效。探頭下降的zui低點 設(shè)定好后按停止按鈕1秒，就可以進(jìn)行自動或手動操作。 
（4）定位清0：在需要重新設(shè)定探頭下降zui低點時使用，按下后清除原有數(shù)據(jù)源方便重新設(shè)定。 
（5） 上延時： 設(shè)定探頭在上升至zui高點時需要停留的時間，先按上延時按鈕功能窗口顯示UP，這時按        調(diào)整到需要時間。時間調(diào)節(jié)范圍從0-19 秒，每按一次數(shù)據(jù)自動+或-1（范圍為0-95），對應(yīng)時間約為1≈0.2秒，時間設(shè)定好后再按上延時按鈕確定。 
（6）下延時： 設(shè)定探頭在 下降至zui低點時探頭需要在被測樣品上的停留時間，先按下延時按鈕功能窗口顯示d∩，這時按        調(diào)整到需要時間。時間調(diào)節(jié)范圍從0-19秒，每 按一次數(shù)據(jù)自動+或-1（范圍為0-95），對應(yīng)時間約為1≈0.2秒，時間設(shè)定好后再按下延時按鈕確定。 
（7）   ：設(shè)定探頭在下降至zui低點或探頭在上升至zui高點時的停留時間，每按一次數(shù)據(jù)自動+1（范圍為0-95），大于95時自動回0，對應(yīng)時間約為數(shù)據(jù)1≈0.2秒 
（8）   ：設(shè)定探頭在下降至zui低點或探頭在上升至zui高點時的停留時間，每按一次數(shù)據(jù)自動-1（范圍為0-95），小于0后自動跳到95，對應(yīng)時間約為數(shù)據(jù)1≈0.2秒 

3、日常維護(hù) 
（1）在測試架的立柱上有一卡環(huán)，防止電動測試部件因操作失誤而跌落，保護(hù)探針頭和測試臺面?？筛鶕?jù)需要把卡環(huán)緊固在合適的位置。 
（2）測試臺可360度旋轉(zhuǎn)，通過靠近把手的內(nèi)六角螺絲調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)的松緊。 
（3）在設(shè)定探頭下降zui低點時，一般把砝碼頂起1-2mm即可，砝碼zui高可頂起約為8mm，頂起過高可能會卡住探頭引出線。 
（4）在電動架上的機(jī)械活動部分需定期加黃油，保證活動順暢。在探針頭上的兩條直線軸承上也需定期加少量潤滑油。 

4、主機(jī)技術(shù)能數(shù) 
（4）供電電源： 
     AC  220V±10%    50/60  Hz    功率：40W 
（5）使用環(huán)境： 
溫度：23±2℃   相對濕度：≤65% 
無較強(qiáng)的電場干擾，無強(qiáng)光直接照射 
（6）重量、體積： 
主機(jī)重量：30kg 
體積：300×400×400（單位：mm  長度×寬度×高度） 

紅寶石探針頭系列 紅寶石探測器 紅寶石探針頭 紅寶石探測儀（*） 型號：WS-KDT

一、特點
1、 使用幾何尺寸十分的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確。
2、 控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μｍ，保證探針的小游移率。
3、 采用特制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有獨立、準(zhǔn)確的壓力。
4、 量具精度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動，持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術(shù)指標(biāo)
1、 游移率   
                   B級…………… ＜0.5%
                   *……………＜0.3%
                   A*………… ＜0.2%
                   AA*…………＜0.1%
2、 間距偏差  
                   B級…………… ＜3%
                   *…………… ＜2%
                   A*…………  ＜2%
                   AA*………… ＜1%
3、 zui大針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
4、 探針材料：硬質(zhì)合金（主成份：進(jìn)口碳化鎢）或高速鋼
5、 探針壓力      標(biāo)準(zhǔn)壓力：6—10N（4根針總壓力）
                        小壓力：1.2—5N（4根針總壓力）     
                        1牛頓（N）=101.97克
6、 針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V緣電阻：＞1000MΩ
 

公司名稱：北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司
聯(lián) 系 人：蘇
：/
:     2495283342
地    址：北京市通州區(qū)新華北街117號
網(wǎng)    站：www.5117sel.com